干簧管壽命

         干簧管壽命隨著切換環(huán)境的不同可能存在很大差異。經(jīng)過(guò)多年的發(fā)展，干簧開(kāi)關(guān)已作了許多改善，對(duì)提高其可靠性起了關(guān)鍵作用。

        磁簧開(kāi)關(guān)由于具有密封性能和無(wú)易損件，因此可以切換空載或信號(hào)負(fù)載數(shù)十億次，并且多數(shù)情況下接觸電阻的變化最小。實(shí)際上，接觸電阻經(jīng)常大約下降5至10毫歐。

        不同型號(hào)的干簧開(kāi)關(guān)，玻璃體長(zhǎng)度從7mm至50mm，能切換納伏至10,000伏電壓，電流從飛安至5安，直流至6GHz頻率?？偟膩?lái)說(shuō)，華壬提供應(yīng)用于傳感器或繼電器的干簧開(kāi)關(guān)，其觸點(diǎn)包括汞觸點(diǎn)、鎢觸點(diǎn)、銠觸點(diǎn)、釕觸點(diǎn)等等。這些不同的干簧開(kāi)關(guān)與一定的應(yīng)用相適配。

        如果您要優(yōu)化磁簧開(kāi)關(guān)使用壽命，一定要在實(shí)際負(fù)載中測(cè)試您的電路以取得您所需的壽命。尤其在切換電感、電容或突入電流負(fù)載時(shí)。

干簧管壽命測(cè)試

        干簧管壽命檢測(cè)是一種破壞性試驗(yàn)，通過(guò)對(duì)磁簧開(kāi)關(guān)進(jìn)行不同組合的電壓、電流和工作頻率，以確保產(chǎn)品可靠性。 壽命試驗(yàn)過(guò)程中測(cè)試的參數(shù)是OAT、RAT、以及操作和釋放時(shí)間。

測(cè)量參數(shù)

• 測(cè)試電流 - 磁簧開(kāi)關(guān)的特定額定電流
• 測(cè)試電壓 - 磁簧開(kāi)關(guān)的特定額定電流額定電壓
• 操作時(shí)間- 監(jiān)控工作時(shí)間為1毫秒，2ms的接觸
• 發(fā)布時(shí)間 - 監(jiān)測(cè)1毫秒，1毫秒接觸中斷
• 工作頻率 - 占空比為50％，1至25赫茲標(biāo)準(zhǔn)尺寸的磁簧開(kāi)關(guān)和25至125Hz用于微型磁簧開(kāi)關(guān)
• 接觸電阻 - 小于5％的測(cè)試負(fù)載
• 線圈驅(qū)動(dòng) - 超載25％

失效準(zhǔn)則

• 接觸時(shí)，接觸電阻測(cè)試負(fù)載超過(guò)5％
• 在接觸終端時(shí)，接觸電阻小于500％的測(cè)試負(fù)載
• 操作過(guò)程中"make"或“break”失敗
• 磁簧開(kāi)關(guān)焊縫

視窗

        在測(cè)試環(huán)境的建立所需的負(fù)載電流和電壓，以便干簧管進(jìn)行連續(xù)的“make”和“break”操作。當(dāng)運(yùn)行時(shí)，額定電流流過(guò)的簧片開(kāi)關(guān)進(jìn)行連接，中斷操作發(fā)生時(shí)的觸點(diǎn)是斷開(kāi)的，沒(méi)有電流流過(guò)。通過(guò)磁簧開(kāi)關(guān)的斷開(kāi)觸點(diǎn)的額定電壓在這期間依然存在。

        "make"失敗能通過(guò)監(jiān)測(cè)簧開(kāi)關(guān)的狀態(tài)識(shí)別，線圈通電后2毫秒，連續(xù)1毫秒。 如果在1毫秒監(jiān)視窗口中，舌簧開(kāi)關(guān)的"break"或不能閉合，則它被認(rèn)為是一個(gè)"make"失敗。

        重復(fù)該過(guò)程，通過(guò)壽命試驗(yàn)，預(yù)期的操作數(shù)，直至該磁簧開(kāi)關(guān)出現(xiàn)故障。 在此期間的接觸電阻監(jiān)測(cè)能夠時(shí)刻了解干簧管在負(fù)載下的實(shí)際情況。

        具體參數(shù)縮寫(xiě)請(qǐng)參看干簧管參數(shù)說(shuō)明。